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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
外觀尺寸：440mm×245mm×228mm
產(chǎn)品特點(diǎn)：
高速率、高靈敏相關(guān)器 | 日本濱松高靈敏光電倍增管 |
雙氣流循環(huán)結(jié)構(gòu)? | 待測(cè)樣品±0.1°自動(dòng)恒溫 |
全直流供電 | 進(jìn)口Opnex恒溫恒功率激光器 |
NKT-N9納米激光粒度儀是基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析儀器
NKT-N9納米激光粒度儀被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無(wú)機(jī)納米顆粒、乳液
、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。| 測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射（DLS） |
| 粒徑范圍 | 0.5nm-10000nm(與樣品有關(guān)) |
| 探測(cè)角度 | 90° |
| 激? 光? 器 | 集成恒溫系統(tǒng)最大功率50mw，波長(zhǎng)532nm或405固體激光器（可選） |
| 相? 關(guān)? 器 | 物理通道：512，等效通道：10000 ，基線通道：8 ，采樣及延遲時(shí)間：1us-200us動(dòng)態(tài)可調(diào)，最小分辨率：6ns |
| 檢? 測(cè)? 器 | 日本濱松光子計(jì)數(shù)探測(cè)器（光電倍增管） |
| 濾波方式 | 光陷阱濾波 |
| 準(zhǔn)? 確? 度 | 優(yōu)于±1%（平均粒徑 ，NIS可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
| 重? 復(fù)? 性 | 優(yōu)于±1%（平均粒徑 ，NIS可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
| 樣? 品? 池 | 10mm×10mm×40mm? 最小1ml，最大4ml |
| 最小濃度 | 0.1mg/ml-100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
| 測(cè)量速度 | 小于5分鐘/次 |
| 溫控范圍 | 0℃-90℃（±0.1℃） |
| 溫控精度 | 0.1℃ |
| 環(huán)境溫度 | 0°C-45°C |
| 環(huán)境濕度 | 10%-85%相對(duì)濕度（無(wú)結(jié)凝） |
| 電源要求 | 220V(±20V),50Hz–60Hz |
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 19077-2016/ISO 13320:2009 |
| 外觀尺寸 | 440mm×245mm×228mm |
| 儀器重量 | 9.5kg |
詳細(xì)技術(shù)參數(shù)? ? 請(qǐng)與銷售部聯(lián)系
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用恒溫控制的大功率半導(dǎo)體激光和光纖組合搭建而成的光子相關(guān)光譜探測(cè)系統(tǒng)
全直流供電 儀器使用了外置適配器全直流供電技術(shù)
高靈敏度與信噪比 采用具有低暗計(jì)數(shù)、高靈敏度的HAMAMATSU專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT）作為探測(cè)器
超強(qiáng)的運(yùn)算功能 使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小，必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏
。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關(guān)器，具有識(shí)別6ns的極高分辨能力和極高的信號(hào)處理速度，可快速實(shí)時(shí)的采集光子數(shù)并計(jì)算相關(guān)運(yùn)算，為測(cè)試準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)。超強(qiáng)功能的分析軟件 分析軟件中反演算法采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)推薦的累計(jì)量法以及目前比較通用的非負(fù)最小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測(cè)試結(jié)果與國(guó)際權(quán)威的同類產(chǎn)品具有很好的一致性
。高速數(shù)字相關(guān)器 自適應(yīng)通道配置
，物理通道：512，等效通道：10000，基線通道：8采樣及延遲時(shí)間：1us~200us動(dòng)態(tài)可調(diào)， 最小分辨能力：6ns。高精度溫控系統(tǒng) 樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達(dá)±0.1℃
，使被測(cè)樣品和激光器光源在整個(gè)測(cè)試過程中都處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，確保測(cè)試準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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